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TT261涂層測厚儀

產(chǎn)品型號：TT261

簡介介紹：

TT261涂層測厚儀采用了磁性和渦流兩種測厚方法，可無損地測量磁性金屬基體(如鋼、鐵、合金和硬磁性鋼等)上非磁性覆蓋層的厚度(如鋅、鋁、鉻、銅、橡膠、油漆等)及非磁性金屬基體(如銅、鋁、鋅、錫等)上非導(dǎo)電覆蓋層的厚度(如:橡膠、油漆、塑料、陽極氧化膜等 TT261涂層測厚儀能廣泛地應(yīng)用在制造業(yè)、金屬加工業(yè)、化工業(yè)、商檢等檢測領(lǐng)域。

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詳情介紹

一、產(chǎn)品概述 :

TT261涂層測厚儀是一種便攜式測量儀,能快速、無損傷、精密地進行涂、鍍層厚度的測量。既可用于實驗室，也可用于工程現(xiàn)場。通過使用不同的測頭，還可滿足多種測量的需要。能廣泛地應(yīng)用在制造業(yè)、金屬加工業(yè)、化工業(yè)、商檢等檢測領(lǐng)域。
TT261涂層測厚儀是材料保護專業(yè)必備的儀器。

符合以下標準：
GB/T 4956─1985 磁性金屬基體上非磁性覆蓋層厚度測量磁性方法
GB/T 4957─1985 非磁性金屬基體上非導(dǎo)電覆蓋層厚度測量渦流方法
JB/T 8393─1996 磁性和渦流式覆層厚度測量儀
JJG 889─95 《磁阻法測厚儀》 J
JG 818─93 《電渦流式測厚儀》

二、功能特點 :

      1.采用了磁性和渦流兩種測厚方法，可無損地測量磁性金屬基體(如鋼、鐵、合金和硬磁性鋼等)上非磁性覆蓋層的厚度(如鋅、鋁、鉻、銅、橡膠、油漆等)及非磁性金屬基體(如銅、鋁、鋅、錫等)上非導(dǎo)電覆蓋層的厚度(如:橡膠、油漆、塑料、陽極氧化膜等)。

      2. 可使用7 種測頭(F400、F1、F1/90°、F10、CN02、N1)
      3. 具有兩種測量方式：連續(xù)測量方式（CONTINUE）和單次測量方式（SINGLE）；
      4. 具有兩種工作方式：直接方式(DIRECT)和成組方式(A-B)；
      5. 設(shè)有五個統(tǒng)計量：平均值、*大值、*小值、測試次數(shù), 標準偏差
      6. 可采用兩種方法對儀器進行校準，并可用基本校準法對測頭的系統(tǒng)誤差進行修正；
      7. 具有存貯功能：可存貯650 個測量值；
      8.具有刪除功能：對測量中出現(xiàn)的單個可疑數(shù)據(jù)進行刪除，也可刪除存貯區(qū)內(nèi)的所有數(shù)據(jù)，以便進行新的測量；
      9.可設(shè)置限界：對限界外的測量值能自動報警；并可用直方圖對一批測量值進行分析；

     10.涂層測厚儀具有與PC 機通訊的功能：可將測量值、統(tǒng)計值傳輸至PC 機，以便對數(shù)據(jù)進行進一步處理；
      11. 具有電源欠壓指示功能；
      12. 操作過程有蜂鳴聲提示；
      13. 具有錯誤提示功能，通過屏顯或蜂鳴聲進行錯誤提示；
      14. 設(shè)有兩種關(guān)機方式：手動關(guān)機方式和自動關(guān)機方式

注：H—標稱值

基本配置：
　　TT261主機　　 1臺
　　F1或N1測頭　 1支
　　校準標準片　   1套
      標準基體          1片
　　普通5號電池     2個
      手提箱 1個合格證，保修卡，說明書等文字資料
      通訊電纜 1個軟件 1個

選配件：

1．各種特殊探頭（請參照：選配探頭參數(shù)）

2．  特殊標準厚度片


                                   北京時代元峰科技有限公司

                銷售顧問：王峰
                聯(lián)系方式：010-59790568
                   傳      真：010-57902282



三、技術(shù)參數(shù)    :

測頭頭型號		F400		F1		F1/90°	F10
工作原理		磁感應(yīng)
測量范圍（um）		0~400		0~1250			0~10000
低限分辨力（um）		0.1		0.1			10
示值誤差	一點校準（um）	±(3%H+1)					±(3%H+10)
	二點校準（um）	±[(1~3) %H+0.7]		±[(1~3)%H+1]			±[(1~3)%H+10]
測試條件	*小曲率半徑（um）	凸	1	1.5		平直	10
	*小面積的直徑（mm）	3		7		7	40
	基體臨界厚度（mm）	0.2		0.5		0.5	2

側(cè)頭型號		N1			CN02
工作原理		渦流
測量范圍（um）		0~1250			10~200
低限分辨力（um）		0.1			1
示值誤差	一點校準（um）	±(3%H+1.5)			±(3%H+1)
	二點校準（um）	±[(1~3) %H+1.7]			—
測試條件	*小曲率半徑（um）	3			僅為平直
	*小面積的直徑（mm）	5			7
	基體臨界厚度（mm）	0.3			無限制

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